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“土壤结构和作物根系可视化与定量化-CT技术应用”研讨会在上海召开

2017-10-17 分享到:
  101215日,“土壤结构和作物根系可视化与定量化-CT技术应用”研讨会在上海成功召开。研讨会由中国科学院南京土壤研究所和中国农业科学院作物研究所主办,上海英华检测科技有限公司承办。会议吸引了60多位国内各科研院所和高校的青年科学家和研究生参加。

  会议邀请了诺丁汉大学、清华大学、浙江大学、北京师范大学和中国科学院、GE等国内外单位的多位专家,介绍了CT技术最新进展及其在土壤和根系可视化与定量化研究中的应用,分享了他们最新的研究成果。研讨会期间,还特别邀请了CT图像处理实践经验丰富的专家对参会学员进行了培训,详细介绍了CT扫描的试验方法,土壤三维结构定量化分析方法,以及作物根系分割与定量化方法等。

  此次会议的成功召开,将会有助于推动CT技术在我国土壤学研究中的应用。

 

会议现场

培训现场